El objetivo de este estudio fue caracterizar las principales características y la degradación inducida por el uso de la lima Genius después de cuatro instrumentaciones de conductos radiculares severamente curvados y comparar sus propiedades con las de las limas Reciproc. Los archivos nuevos y usados ??ex vivo se analizaron mediante microscopía electrónica de barrido (SEM) con espectrometría de rayos X de dispersión de energía (EDS), calorimetría de barrido diferencial (DSC), difracción de rayos X (XRD), metalografía óptica y nano indentación. revelar sus características morfológicas, químicas, mecánicas, térmicas y de composición de fases. Los datos de nano indentación se analizaron estadísticamente utilizando la t de Studentprueba de distribución normal o la prueba de Kolmogorov-Smirnov para distribuciones anormales. El análisis SEM mostró la presencia de microgrietas cerca de la punta en ambos archivos después de la prueba de uso ex vivo. El análisis de EDS confirmó que ambas limas están fabricadas con una aleación de NiTi casi equiatómica. El análisis de DSC reveló que la temperatura de transición del Genius está por debajo de los 20 ° C, mientras que la del Reciproc está por encima de los 20 ° C. El análisis XRD de los archivos Genius identificó austenita B2 cúbica con picos menores de martensita B19 monoclínica residual, mientras que la presencia contemporánea de martensita, austenita y fase R hexagonal se observó en los archivos Reciproc. Diferencias significativas en nanodureza y módulo de elasticidad ( P?<.05) en los archivos Genius y Reciproc antes y después de su uso. Los resultados recopilados mostraron que ambos instrumentos se pueden utilizar de forma segura como archivos de un solo uso.
ISSN: 16181247
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Generali, Luigi
Evaluación de la degradación inducida por el uso de instrumentos alternativos de níquel-titanio Genius y Reciproc
En: Odontology / The Society of the Nippon Dental University; odo, v.107 no 4. -- Vol. 107, no. 4 (October, 2019). -- Tokyo : Springer, 2001
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El objetivo de este estudio fue caracterizar las principales características y la degradación inducida por el uso de la lima Genius después de cuatro instrumentaciones de conductos radiculares severamente curvados y comparar sus propiedades con las de las limas Reciproc. Los archivos nuevos y usados ??ex vivo se analizaron mediante microscopía electrónica de barrido (SEM) con espectrometría de rayos X de dispersión de energía (EDS), calorimetría de barrido diferencial (DSC), difracción de rayos X (XRD), metalografía óptica y nano indentación. revelar sus características morfológicas, químicas, mecánicas, térmicas y de composición de fases. Los datos de nano indentación se analizaron estadísticamente utilizando la t de Studentprueba de distribución normal o la prueba de Kolmogorov-Smirnov para distribuciones anormales. El análisis SEM mostró la presencia de microgrietas cerca de la punta en ambos archivos después de la prueba de uso ex vivo. El análisis de EDS confirmó que ambas limas están fabricadas con una aleación de NiTi casi equiatómica. El análisis de DSC reveló que la temperatura de transición del Genius está por debajo de los 20 ° C, mientras que la del Reciproc está por encima de los 20 ° C. El análisis XRD de los archivos Genius identificó austenita B2 cúbica con picos menores de martensita B19 monoclínica residual, mientras que la presencia contemporánea de martensita, austenita y fase R hexagonal se observó en los archivos Reciproc. Diferencias significativas en nanodureza y módulo de elasticidad ( P?<.05) en los archivos Genius y Reciproc antes y después de su uso. Los resultados recopilados mostraron que ambos instrumentos se pueden utilizar de forma segura como archivos de un solo uso.
ISSN: 16181247
1. CALORIMETRiA DIFERENCIAL DE BARRIDO; 2. ARCHIVOS GENIUS; 3. CARACTERIZACION METALURGICA; 4. MOVIMIENTO RECIPROCO; 5. INSTRUMENTOS ALTERNATIVOS; 6. RECIPROC I. Borghi, Alessia II. Lusvarghi, Luca III. Bolelli, Giovanni IV. Veronesi, Paolo V. Vecchi, Andrea VI. Consolo, Ugo VII. Becce, Carlo VIII. Bertoldi, Carlo IX. Sassatelli, Paolo